TLV816光耦CTR测试

光耦CTR是指光耦内部流过集极电流IC与流过发光二极管的电流IF比值，IF为流过发光二极管的电流，用于驱动发光二极管使光敏管导通，允许光敏管流过的最大电流为Ic；驱动需要满足Ic<IF*CTR。

测试数据如下图：

测得CTR曲线如图：

光耦一次侧与二次侧线性关系：

CTR1是两端都为5V供电时，测得的结果，CTR2为二极管侧输入为3.3V时测试结果，从CTR曲线可以看出光耦CTR不受驱动电压影响，CTR3为Vce=3.3V时测得的CRT，相对于典型值要略低一点。

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