[BASIC-23] 芯片测试

基础练习 芯片测试

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问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

样例输出

1 3

分析：

1、测试结果矩阵中，第 i 列表示第 i 块芯片被其他芯片测试的结果

2、好芯片比坏芯片多，说明第 i 块芯片如果是好的，那么第 i 列数据中，1 的个数肯定多余 n / 2 ；如果是坏的，就少于 n / 2

import java.util.Scanner;

public class Main {

	public static void main(String[] args) {
		Scanner scanner = new Scanner(System.in);

		while (scanner.hasNext()) {
			int n = scanner.nextInt();

			int[] count = new int[n];// 记录第i块芯片测试结果中1出现的个数
			int[][] result = new int[n][n];// 测试结果数据

			for (int i = 0; i < n; i++) {
				for (int j = 0; j < n; j++) {
					result[i][j] = scanner.nextInt();
					if (result[i][j] == 1) {
						count[j]++;
					}
				}
			}

			for (int i = 0; i < n; i++) {
				if (count[i] > n / 2) {
					System.out.print(i + 1);
					System.out.print(i == n - 1 ? "\r\n" : " ");
				}
			}
		}
	}
}

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