《闪存问题之PROGRAM DISTURB》总结

来自 http://www.ssdfans.com/?p=1814

SSD之所以需要BCH或LDPC等ECC纠错算法,是因为闪存中的数据会在神不知鬼不觉的情况下发生比特翻转。

导致比特翻转的原因很多,比如之前提到的data retention 问题, PE问题,read disturb问题,还有其他一些问题。Program Disturb也是其中原因之一,今天就介绍一下什么是Program Disturb,它是如何导致数据出错的。

要对闪存Block进行擦除操作,擦除是把浮栅极里面的电子赶出来。它的实现是在衬底加一个高电压,控制极接地,之间建立一个强大的电场,浮栅极里面的电子在隧道效应作用下,被强制驱赶出来。

Program操作是在Block擦除的基础上,通过往浮栅极注入电子,实现1变为0。往浮栅极注入电子,做法与擦除操作相反,它是在控制极加个高电压,衬底接地,建立一个与擦除相反的强电场,外面的电子在隧道效应作用下,进入浮栅极。

Program是按Page为单位进行的,每个Page由很多bitline组成,我们往Page上写数据时,里面数据有0也有1:如果往某个存储单元写入1,我们认为这个比特可以不做Program操作,因为擦除后的存储单元,里面数据本来就是1;如果我们写入的是0,则真正需要做Program操作,即把之前的1改写为0。

上图中,黄色圈起来的是我们要写的Wordline (WL,某个具体的page),这里只画出该WL上的两个比特,其中一个比特我们需要写0 (绿色圈起来),即进行真正的Program操作,而另外一个比特(红色圈起来的),我们要写入1,对该比特来说,我们不需要program (称之为Program Inhibit)。

我们一次只能Program一个page。对该page,我们在该WL上所有的存储单元控制极加一个19V的高电压;而对其他未被写的WL,我们在他们所有存储单元的控制极上加一个较小的电压,例子中是9V。

对于要做真正Program操作(1->0)的那个存储单元所在的bitline (BL),我们让其接地,于是,左边的String看起来如下:

该String中,要program的那个存储单元,控制极电压是19V,衬底电压是0,就形成一个强电场,电子就被注入浮栅极。

对该String中其它存储单元(属于其它没有被Program的page or WL):

它们控制极电压是9V,衬底电压是0,也会形成一个电场,但该电场强度不足以让电子轻松注入到其浮栅极。

但是不管怎样,这个电场还是有概率让电子进入到浮栅极,尤其是绝缘层隔绝性能比较差的时候(比如擦写次数过多)。因此,被Program的存储单元所在String上其它存储单元会一定程度上受该次Program影响,我们称之为Pass Disturb。该影响类似前面提到的Read Disturb,但由于一个Block擦除一次能写的次数有限(一个Block的page数),不像Read操作可以反复读取,所以,Pass Disturb对数据影响没有Read Disturb严重。

看完左边的String,我们看右边的String,也就是那个无需Program的存储单元(1->1,我们称该存储单元为 Program Inhibit)所在的String:

对Program Inhibit存储单元,我们在其所在String的Bitline上加了个2V电压,最终会在衬底产生一个7V的Vboost电压。

对于Program Inhibit,控制极电压是19V,减去7V的Vboost电压,12V电势差,该电势差产生的电场不足以让电子轻松流入浮栅极,因此,存储单元基本还是保持擦除后的状态,即1还是1。

但是,这个12V电势差产生的电场,还是能让电子有概率进入到浮栅极,尤其是绝缘层隔绝性能比较差的时候。最坏的情况,可能我们不期望Program的存储单元,最后却做了真正的Program操作,即1->0,这是我们不期望的。我们称这种让Program Inhibit存储单元做了Program的现象,叫做Program Disturb。

最后,总结一下,Program操作存在下面两个Disturb:

1.同一个Wordline (同一个Page),存在Program Disturb。我们在写一个Page的时候,本来某些bit我们想写入1,但最后却写成0。

2.Program的比特所在的那列String的其它存储单元,存在Pass Disturb。

无论是Program Disturb还是Pass Disturb,其作用会导致浮栅极进入不期望的电子,这点和Read Disturb的影响是一样的。但是,由于每个Page在一次擦除后Program只能进行一次,不像Read Disturb一样,可以读很多次,Program Disturb没有累积效应(但单次影响程度比Read Disturb大,因为控制极上加的电压更大),所以一定程度上没有Read Disturb影响恶劣。但不管怎样,Program操作也是导致数据出错的一个元凶。

时间: 2024-10-14 00:14:28

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