目前，有一份标准可用于测试有或无芯片的卡，它就是ISO/IEC 10323标准。在欧洲，还有EN 1292标准， 但它是专用于智能卡和终端的，包括了它们的一般电气需求。有关的卡标准经常关系到标准中规定的特性检 验的单项测试和测试步骤。
以下各项中，按字母表顺序简明地叙述了许多关于智能卡常用的测试和检验，参看图1。卡制造商的测试实 验室通常有卡的100～150项不同测试的一览表。
图1 卡体测试的分类选择（每项单独的卡要素：全息图像、磁条、芯片等等，都需要进行一系列的测试）
环境条件是测试环境标准化的基本需求，这就是说在测试实验室内必须保持温度为23℃±3℃而相对湿度 在40％～60％之间，被测卡必须在这种条件下适应24小时以上的时间，才能进行实际测试。
1，磁条的磨损测试
（根据：ISO 7811-2；测试规程：ISO/IEC，10373）
为了了解磁条对磨损的反映如何，首先把测试数据写入磁条，然后用一哑读/写头，其硬度为110HV至 130HV而曲率半径为10mm，沿磁条以.5N的外加力来来往往地移动1 000次，接着再读出数据，信号幅度必须 在ISO 7811－2所规定的范围之内。
2，附着力或粘结成块
（根据：ISO 7810；测试规程：ISO/IEC 10373）
此项测试检查在某种环境条件下存储之卡的形状改变，5张未凸印之卡叠在一起，并在40℃与90％的相对温度时均匀地受到2.5kPa的压力48小时，然后检查分层、变色、表面变化以及其他可视的改变。
3．弯曲刚度
（根据：ISO 7810；测试规程：ISO/IEC 10373）
为了确定卡是否具有所需的弯曲的刚度，卡的左端以30mm的深度被夹紧，卡的正面向下。首先在无负荷的情况下测量弯曲量，然后，在卡的另一端边缘上施以0．7N的负荷，计算在有负荷和无负荷两种情况下弯曲量之差，结果就表明了卡的刚度，弯曲刚度测试通常还在比一般测试温度23℃高或低的温度时执行。
4，抗化学性
（根据：ISO 7810，ISO 7811－2；坝刂试规程：ISO 10373）
卡体和磁条的抗化学性使用这些测试来考查。在温度为20℃～25℃之间，将不同的卡放于下列准确规定的液体之中。
·5％的氯化钠溶液；
·5％的乙酸溶液；
·5％的碳酸钠溶液；
·60％的乙醇溶液；
·汽油（按照ISO 1817）；
·50％的乙二醇溶液。
一分钟后从溶液中取出卡并或用目测或用磁条阅读器进行测试。
5，动态弯曲压力
（根据：ISO 7816－1；测试规程：ISO/IEC 10373）
图2中说明了动态弯曲应力，卡以每分钟30次的速率（0．5Hz）弯曲，沿长度方向为2cm而沿宽度方向为lcm（r），在四个可能的方向的每个方向上至少弯曲250次（总数为1 000次循环）；卡必须不被损坏。
图2 动态弯曲应力测试时，卡如何加载的图解
6．动态扭转应力
（根据：ISO 7816-1；测试规程：ISO／IEC lO-373）
在动态扭转应力测试时，卡沿纵长轴以每分钟扭曲30次的速率（0.5Hz）扭转±15。。标准要求在经受1 000次扭转循环后，卡的功能不应失效、卡也不能有可见损坏。
（根据：ISO 7816-1/2；测试规程：ISO/IEC 10373）
触点电阻对卡的微控制器的稳定电源供应和数据传输来说是一项重要的依据。触点电阻用两个探针加在最小可用的矩形触点平面的对角上，施以0.5±0.IN之力，探针是半径为0.4mm的圆球形，表面镀金，两探针间的电阻应小于0.5Ω。
8．电磁场
（根据：ISO 7816－1；测试规程：ISO/IEC 10373）
在此测试中，卡以lcm/s的最大速率移动到一个强度为10 00 Oe（79.580H）的静态电磁场中，卡的存储器的内容应没有改变。
9可燃性
（根据：ISO 7813；坝刂试规程：ISO/IEC 10373）
卡的可燃性用喷灯来测量，测量时以45°角夹持着一边放在规定的喷灯光焰中（直径8.5mm，高25mm）30s。
10．磁通量改变的空间变化
（根据：ISO 7811－2；测试规程：ISO/IEC 10373）
这项测量决定在磁条中个别位编码的磁通量改变是否均匀和有足够的强度，一读磁头沿磁条通过并记录下磁场的变化，测量结果与ISO 7811－2中的规定值相比较。
1 1．字符压印凸纹高度
（根据：ISO 7811－1；测试规程：ISO/IEC 10373）
在此测试中，用一测微计测量凸印处的厚度，所施之力在3.5N至5.9N之间。
12．磁条的高度和表面轮廓
（根据：ISO 78 1 1 －2/4/5；测试规程：ISO/IEC 10373）
这项测试测量磁条的高度和表面的均匀性。用在标准中详细描述的特殊测量设备来得出高度的轮廓线。
13．卡尺寸
（根据：ISO 7810；坝刂试规程ISO／IEC 10373）
此项测试测量一未凸印之卡的高、宽和厚度。卡上施以2.2N之力，其高与宽用轮廓投影仪测量，为了测量厚度，把卡分为四个相等之矩形，用一测微计当所施之力在3，5N至5．9N之间时在每个矩形的中心测量其厚度，将测得之最大与最小值二者和标准厚度相比较。
14．卡尺寸稳定性与温度和湿度导致的变形
（根据：ISO 7810；坝刂试规程ISO/IEC 10373）
某些类型的塑料的形状与大小，随大气温度的变化而明显改变。因此，卡满足标准的能力也必须在这些条件下测试。测试时，卡平放在一表面上而改变温度与湿度，测试条件为-35℃，+50℃和+25℃时相对湿度为5％以及＋25℃时相对湿度为95％，每次在这些条件中暴露ω分钟后，检验尺寸与形状相对于标准值的改变。
15，触点位置
（根据：ISO 7816－2；测试规程：ISO/IEC 10373）
这项测试用来测量触点的位置。卡被放置到一平面上并受到2.2N±0.2N之力。接着，使用一种预期精度至少为0.05mm的方法测量触点相对于卡的边缘的位置。
16，光透明度
（根据：ISO 7810；测试规程：ISO/IEC 10373）
某些卡具有嵌入薄膜上的光学条码。这项测试宜于用来决定覆盖层和卡体的其余部分的透明度。卡的一面用光源照明，在另一面用灵敏度为900nm光的检测器测量光的传输。
17，触点表面轮廓
（根据：ISO 7816－1/2；测试规程：ISO/IEC 10373）
这项测试把单个触点的表面的轮廓与卡其余部分的表面相比较，其目的在于保证触点大体上和整个卡表面 处在同一平面之中。
18．磁条的表面粗糙度
（根据：ISO 7811－2；测试规程：ISO/IEC 10373）
磁条的表面粗糙度用和高度与表面轮廓同样的设各测量。然而，它使用了一个特殊的探针使得磁条的表面 粗糙度能被测定，这项测试的重要意义在于表面粗糙度是磁条阅读器读／写头被磨损的主要因素之一。
19．Xˉ射线
（根据：ISO 7816－1；坝刂试规程：ISO/IEC 10373）
（E）EPROM存储器单元的内容会因受Ⅹ－射线照射而改变，就像紫外线那样，为了测试存储器抗Ⅹˉ射线 的能力，芯片以能量为70kV的Ⅹ－射线照射，然后检查存储器内容的任何改变，或者对它们进行是否仍能写 人的测试。
20．振动
（根据和测试规程：ISO/IEC 10313）
由于在运输或使用时卡经常受到剧烈的振动（例如，在汽车中的移动电话），所以也必须经适当测试。需 要把卡放在振动台上，沿其三个轴向以超过1.5mm的幅度在10Hz至500Hz的频率范围内振动，芯片的功能与存 储器内容均不应受到不利的影响。
21，幅度测量
（根据：ISO 7811－2；坝刂试规程：ISO/IEC 10373）
此项测试检查磁条编码的信号幅度和分辨率。一个标准的读写头沿磁条以规定的精确速度通过被用来进行 测试。
22．静电
（根据：ISO 7816－1；坝刂试规程：ISO/IEC 10373）
这是一项仅对智能卡有意义的测试，用来检查芯片对静电放电ESD（Electrostatic Discharge）的坚固性 ，一个100pF的电容器依次被充电至±1500V并经1500Ω限流电阻至芯片的不同触点放电。由于这些放电必须 不致危害芯片的功能并且不改变存储器的内容。
23． 毙鹭夕卜线
（根据：ISO 7816－1；测试规程：ISO/IEC 10373）
由于（E）EPROM存储器曝露在紫外线中时会丢失它们的存储内容，于是就有了一项特殊测试用来决定智能 卡是否对紫外线敏感。用波长254nm而能量密度为15Ws/cm2的紫外线照射卡10～30分钟。其结果应当是（E） EPROM的内容必须不变。
24.分层
（根据：ISO 7810；测试规程：ISO/IEC 10373）
下述测试仅对多层卡才有意义，这种卡是由数张塑料层压制而成，顶层用一锐利的刀具在某点与核心层分 开。由此分离开始，测试器试图把此二叠压层分开。测量所需之力并与基准值相比较。
25，卡变形
（根据：ISO 7810；测试规程：ISO/IEC 10373）
此项测试测量卡的变形量，卡被放置在一平坦之表面上，而变形用轮廓投影仪测量，测量主要用于从大张基本材料上冲压出来的卡。
当然还有其他测试事项，诸如插入循环的次数、抗墨水污染的能力、增塑剂的稳定性和抗汗水与口水的能力等，这些均取决于卡在哪里和如何使用，必须选择测试条件后再进行适当的测试。